LT-AFM/MFM 低溫顯微鏡

性能特點(diǎn)

• 非侵入性且定量

• 寬溫度范圍 10mK - 400K

• 磁場(chǎng)噪聲水平：300K 時(shí) 10μT/√Hz ，77K 時(shí) 100nT/√Hz ，4K 時(shí) 10nT/√Hz

• 兼容 PPMS®、其他低溫恒溫器和稀釋制冷機(jī)（DRs ）

• 具備掃描隧道顯微鏡（STM）或原子力顯微鏡（AFM）追蹤功能

• 可實(shí)現(xiàn)局部 B - H 曲線測(cè)試

• 提供室溫版本

• 樣品接近：粘滑式；Z 向 10mm，XY 向 ?3 mm 范圍，步長(zhǎng) 50 - 800nm

• 樣品尺寸：最大 15×15×5mm

• 溫度范圍：低溫掃描霍爾探針顯微鏡（LT - SHPM）為 10mK - 400K（受低溫恒溫器限制 ）

• 磁場(chǎng)：最高 20T

• 兼容性：LT - SHPM 可定制適配 PPMS®、無液氦磁體系統(tǒng)、稀釋制冷機(jī)或 He3 系統(tǒng)

3D - SHPM選件

一種定量、非侵入性儀器，用于對(duì)納米尺度的 3D 表面磁場(chǎng)進(jìn)行成像，在 77K（液氮溫度，約 - 196℃ ）下使用 3D - SHPM 測(cè)量硬盤樣品表面磁場(chǎng)的 3 個(gè)分量 。