LT-sSNOM 低溫顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場(chǎng)成像和光譜學(xué)的能力，以及接觸、動(dòng)態(tài)、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射，散射光由外差干涉儀檢測(cè)。地形圖像可以與光學(xué)圖像同時(shí)獲得。

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：LT-sSNOM 低溫顯微鏡

更新時(shí)間：2025-07-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

LT-sSNOM 低溫顯微鏡

LT-sSNOM 低溫顯微鏡

配備金屬反射鏡，波長(zhǎng)范圍 532 納米 - 20 微米
帶有光纖干涉儀的原子力顯微鏡（AFM）
壓電掃描儀，4K（極低溫環(huán)境）下掃描面積 30×30×15 微米
XYZ 樣品納米定位臺(tái)，行程 6×6×12 毫米
離軸拋物面鏡用 XYZ 納米定位臺(tái)，行程 4×4×6 毫米
電阻式位置傳感器，分辨率 200 納米
外徑 49 毫米
溫度范圍 10 毫開爾文至 300 開爾文
磁場(chǎng)強(qiáng)度最高達(dá) 31 特斯拉
樣品架帶 8 個(gè)電觸點(diǎn)
支持接觸式 / 動(dòng)態(tài) / 非接觸式原子力顯微鏡（ncAFM）/ 磁力顯微鏡（MFM）/ 導(dǎo)電原子力顯微鏡（cAFM）/ 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）/ 脈沖力顯微鏡（PRFM）/ 靜電力顯微鏡（EFM）模式