簡要描述:KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維(2D)和三維(3D)測量,掃描范圍可達150毫米,無需拼接。
產(chǎn)品型號:
所屬分類:探針式輪廓儀
更新時間:2025-05-09
廠商性質:生產(chǎn)廠家
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀以市場的Tencor P-17臺式探針式輪廓儀系統(tǒng)為基礎。它涵蓋了P-17的優(yōu)秀測量性能,為臺式探針式輪廓儀提供了出色的性價比。KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,掃描范圍可達150mm,無需拼接。
臺階高度:納米級到1000微米
恒定力控制:0.03至15mg
樣品的全直徑掃描,無需拼接
視頻:5MP高分辨率彩色相機
弧形校正:可消除探針的弧形運動引起的誤差
軟件:簡單易用的軟件界面
生產(chǎn)能力:全自動測量,具有測序、圖形識別和SECS/GEM功能
臺階高度:2D和3D臺階高度
紋理:2D和3D粗糙度和波紋度
形狀:2D和3D翹曲、形狀
應力:2D和3D薄膜應力
缺陷檢測:2D和3D缺陷表面形貌
高校、實驗室和研究所
半導體和化合物半導體
LED:發(fā)光二極管
太陽能
MEMS:微機電系統(tǒng)
數(shù)據(jù)存儲
汽車
醫(yī)療器械