KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀和 Filmetrics Profilm3D-200 白光干涉儀能夠高分辨率地測(cè)量亞納米級(jí)分辨率的表面形貌。這些機(jī)臺(tái)支持垂直掃描和相移干涉測(cè)量法。KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀采用TotalFocus™ 技術(shù)，可以產(chǎn)生令人驚嘆的 3D 自然彩色圖像，每個(gè)像素都處于聚焦?fàn)顟B(tài)。新一代的 Profilm3D 引入了加強(qiáng)版粗糙度成像技術(shù)，可用于測(cè)量更粗糙的表面、更高的斜率以及更低的反射率表面。

在 Profilm3D 測(cè)量技術(shù)中，測(cè)量的垂直分辨率不依賴(lài)于物鏡的數(shù)值孔徑，能夠同時(shí)以大視場(chǎng)進(jìn)行高分辨率的測(cè)量。通過(guò)將多個(gè)視場(chǎng)拼接到單次測(cè)量中，可以進(jìn)一步增大測(cè)量區(qū)域。Profilm3D 還具有簡(jiǎn)單、創(chuàng)新的用戶(hù)界面和自動(dòng)化功能，支持從研發(fā)到生產(chǎn)的各種工作環(huán)境。

我們的 Profilm^® 軟件包采用優(yōu)良的基于云的 ProfilmOnline^® 網(wǎng)絡(luò)服務(wù)、 Android 和 iOS 的移動(dòng)應(yīng)用程序以及高級(jí) Profilm 桌面軟件，可提供靈活的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、可視化功能以及分析解決方案。

特征

• 垂直掃描和相移干涉測(cè)量法用于測(cè)量納米級(jí)到毫米級(jí)的表面特征

• TotalFocus 3D成像技術(shù)對(duì)整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)的每個(gè)像素的聚焦能力都進(jìn)行了優(yōu)化

• 真彩色成像可生成實(shí)際的樣品顏色，增強(qiáng)可視化效果，尤其是對(duì)于細(xì)小或埋藏的特征

• 粗糙度增強(qiáng)模式 (ERM) 可提高條紋的對(duì)比度，從而提高透鏡等斜率較大的表面的保真度，并改善了粗糙表面上的信噪比

• 該自動(dòng)對(duì)焦功能具有行業(yè)優(yōu)秀的長(zhǎng)壓電行程范圍，可掃描高度相隔甚遠(yuǎn)的多個(gè)表面

• 具有長(zhǎng)行程范圍的 自動(dòng)化 X-Y 樣品臺(tái)，非常適合分布測(cè)繪和拼接掃描

• 使用簡(jiǎn)便的軟件包帶有高級(jí) Profilm 桌面、基于云的 ProfilmOnline 和移動(dòng)應(yīng)用程序，可用于靈活的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、可視化功能以及分析。

應(yīng)用

• 臺(tái)階高度：從納米級(jí)到毫米級(jí)的 3D 臺(tái)階高度

• 紋理和形狀：3D粗糙度、波紋度、翹曲度和形狀

• 紋理表征

• 邊緣倒角：3D邊緣輪廓測(cè)量

• 缺陷表征：3D缺陷表面形貌、缺陷表征

• 對(duì)大型透明薄膜的表面進(jìn)行高分辨率掃描

• 高粗糙度，低反射率，劃痕表征

行業(yè)

• 大學(xué)、實(shí)驗(yàn)室和研究所

• 硅和化合物半導(dǎo)體

• 精密光學(xué)和機(jī)械

• 醫(yī)療設(shè)備

• LED：發(fā)光二極管

• 功率器件

• MEMS: 微機(jī)電系統(tǒng)

• 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

• 汽車(chē)