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簡要描述:KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測試,包括壓痕、硬度、劃痕和通用的納米尺度測試。大范圍的力和位移動態(tài)測量范圍允許對從軟聚合物到金屬的材料進(jìn)行精確和可重復(fù)的測試。 模塊選項(xiàng)可以適配各種應(yīng)用:材料性能分布圖、特定頻率的測試、劃痕和磨損測試以及高溫測試。
產(chǎn)品型號:
所屬分類:納米壓痕儀
更新時(shí)間:2025-03-10
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
KLA iNano®納米壓痕儀采用了用于執(zhí)行納米壓痕和通用納米機(jī)械測試的InForce 50作動器。InForce 50的50 mN力和50µm位移范圍允許該系統(tǒng)執(zhí)行廣泛的測試。InView 軟件包靈活、現(xiàn)代,讓用戶輕松進(jìn)行納米尺度測試。KLA iNano®納米壓痕儀是一個(gè)緊湊的平臺,內(nèi)置有高速InQuest控制器和隔振機(jī)架。可以測試各種材料和裝置,包括金屬、陶瓷、復(fù)合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物物質(zhì)和凝膠。
InForce 50作動器用于電容位移測量和電磁力驅(qū)動,具有可互換的壓頭
軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng),精確的壓頭校準(zhǔn)
Inquest高速電子控制器,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20µs時(shí)間常數(shù)
XY移動系統(tǒng)帶有易于安裝的磁性樣品架
具有數(shù)字變焦功能的集成顯微鏡,可獲得精確的壓痕定位
ISO 14577和標(biāo)準(zhǔn)化測試方法
包含RunTest、ReviewData、InFocus報(bào)告、 InView University 在線培訓(xùn)和InView移動應(yīng)用程序的InView軟件包
硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
材料力學(xué)性能分布圖
ISO 14577硬度測試
聚合物損耗因子
高溫納米壓痕測試
大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
半導(dǎo)體和封裝行業(yè)
聚合物和塑料
MEMS:微機(jī)電系統(tǒng)/納米尺度通用測試
陶瓷和玻璃
金屬和合金
藥品
涂料和油漆
聚合物制造
復(fù)合材料
電池和儲能