KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)

簡要描述：KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和配置相結(jié)合，可提供最大的通用性，可測量厚度為 1 納米至 3 毫米的薄膜。

產(chǎn)品型號：

所屬分類：薄膜厚度測量儀

更新時間：2025-03-10

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設(shè)置同樣簡單, 只需插上設(shè)備到您運行Windows™系統(tǒng)計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)已在世界各地有成千上萬的應(yīng)用被使用. 事實上，我們每天從我們的客戶學(xué)習(xí)更多的應(yīng)用。

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)

擇您的KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)

包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)
SS-3 樣品平臺及對應(yīng) 光纖電纜
參考材料
厚度標(biāo)準(zhǔn)
整平濾波器 (用于高反射基板)
備用燈

型號規(guī)格

型號	厚度范圍*	波長范圍
F20	15nm-70μm	380-1050nm
F20-EXR	15nm-250μm	380-1700nm
F20-NIR	100nm-250μm	950-1700nm
F20-UV	1nm-40μm	190-1100nm
F20-UVX	1nm-250μm	190-1700nm
F20-XT	0.2μm-450μm	1440-1690nm
F3-sX系列	10μm-3mm	960-1580nm