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KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統

簡要描述:KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統;經濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和配置相結合,可提供最大的通用性,可測量厚度為 1 納米至 3 毫米的薄膜。

產品型號:

所屬分類:薄膜厚度測量儀

更新時間:2025-03-10

廠商性質:生產廠家

詳情介紹

只需按下一個按鈕,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上,我們每天從我們的客戶學習更多的應用。

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統

擇您的KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長范圍)

KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統

包含的內容:

  • 集成光譜儀/光源裝置

  • FILMeasure 8 軟件

  • FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數據分析)

  • SS-3 樣品平臺 及對應 光纖電纜

  • 參考材料

  • 厚度標準

  • 整平濾波器 (用于高反射基板)

  • 備用燈

型號規格

型號厚度范圍*波長范圍
F20
15nm-70μm
380-1050nm
F20-EXR15nm-250μm
380-1700nm
F20-NIR
100nm-250μm
950-1700nm
F20-UV
1nm-40μm
190-1100nm
F20-UVX1nm-250μm190-1700nm
F20-XT
0.2μm-450μm
1440-1690nm
F3-sX系列
10μm-3mm
960-1580nm




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