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薄膜厚度測量儀

簡要描述:KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動(dòng)化R-Theta平臺,支持標(biāo)準(zhǔn)和定制化樣品夾盤,最大樣品直徑達(dá)450毫米,能高效測繪薄膜厚度。該設(shè)備適用于多種厚度和類型的薄膜,包括薄至5納米或厚至250微米的薄膜,并可根據(jù)不同需求選擇不同波長范圍的型號。

產(chǎn)品型號: KLA Filmetrics F50

所屬分類:薄膜厚度測量儀

更新時(shí)間:2025-05-09

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

自動(dòng)化薄膜測繪

KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度。一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺可接受標(biāo)準(zhǔn)和客制化夾盤,樣品直徑可達(dá)450毫米。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!)

測繪圖案可以是極座標(biāo)、矩形或線性的,您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法,并且不受測量點(diǎn)數(shù)量的限制。內(nèi)建數(shù)十種預(yù)定義的測繪圖案。

不同的KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的。 標(biāo)準(zhǔn)的 F50是受歡迎的產(chǎn)品。 一般較短的波長 (例如, F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

包含的內(nèi)容:

  • 集成光譜儀/光源裝置

  • 光纖電纜

  • 4", 6" and 200mm 參考晶圓

  • TS-SiO2-4-7200 厚度標(biāo)準(zhǔn)

  • BK7 參考材料

  • 整平濾波器 (用于高反射基板)

  • 真空泵

  • 備用燈

型號規(guī)格

型號 厚度范圍 波長范圍
F50 20nm-70μm 380-1050nm
F50-UV 5nm-40μm 190-1100nm
F50-NIR 100nm-250μm 950-1700nm
F50-EXR 20nm-250μm 380-1700nm
F50-UVX 5nm-250μm 190-1700nm
F50-XT 0.2μm-450μm 1440-1690nm
F50-s980 4μm-1mm 960-1000nm
F50-s1310 7μm-2mm 1280-1340nm
F50-s1550 10μm-3mm 1520-1580nm

 

 

 

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