KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,實現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設備價格合理,具備分析、FWHM確定及顏色分析功能,并可通過選配模塊擴展其厚度和折射率測量能力。配備FILMeasure 8軟件和多種參考材料,支持多種薄膜類型,覆蓋從紫外到近紅外的寬波長范圍,提供高效的測量結(jié)果輸出及全面的技術支持服務。
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設計的儀器,基于F20平臺,采用光譜反射分析技術,提供快速準確的測量結(jié)果。該設備已在世界各地廣泛使用,尤其受到汽車硬涂層公司的青睞。附帶全套軟件、探頭及參考材料等配件,并提供持續(xù)的技術支持與升級服務。
KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和配置相結(jié)合,可提供最大的通用性,可測量厚度為 1 納米至 3 毫米的薄膜。
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘內(nèi)測量到顏色、反射率和薄膜厚度。
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘內(nèi)測量到顏色、反射率和薄膜厚度。